수신 : TBS 우민영 주임님발신 : 자화전자 OD연구1팀 이상

수신 : TBS 우민영 주임님
발신 : 자화전자 OD연구1팀 이상화

안녕하세요
자화전자 OD연구1팀 이상화입니다.

QJ4G 낙하신뢰성 불량품에 대한 분량 분석 보고서 공유드립니다.

첨부 보고서에서 작성되어 있듯, 불량 원인은 IC Crack으로 확인이 되며 Crack이 왜 발생하였는지는 확인이 불가능 하였습니다.

QJ4 프로젝트를 진행하면서 많은 낙하 시험을 진행하였으나, IC가 깨진 경우는 처음이며 타모델에서도 IC Crack 이력은 없는 상태라 난감한 상태입니다.

라이트온에 확인해 주셔야 할 부분은 기존 Test 하던 Jig와 다른 jig인지, 보강판 유무에 따른 불량발생인지를 확인하기 위해 보강판이 없는 제품으로 추가 Test가 가능한지 문의가 필요합니다.

낙하 불량통보 후 저희도 낙하 Test를 진행하였으나 불량은 발생하지 않았습니다.

이와 관련하여 Lite on 대응 진행 부탁드리며, 유선으로 연락 드리겠습니다.

수고하세요
이상화올림

結果 (繁體中文) 1:

經辦人︰ TBS 吳敏年輕的上司從︰ 磁化 e OD r & d 1 隊李桑華你好嗎磁化 e OD 研發團隊 1 被理想化。定量分析的可靠性的下降 QJ4G 拒絕報告共用。附在報告編寫，事業將會確認為壞的裂紋裂縫 IC 圖，這就是為什麼它是無法核實，發生。雖然許多滴測試 QJ4 專案正在進行，但如果你得到第一的時間模型 IC 時破碎也沒有拉嚴重狀態 IC 裂紋。請做檢查出的部分對現有的工裝夾具，測試光角撐板存在了跳汰機和其他是作為可能接觸的產品，不需要添加檢查此測試中的缺陷的衣袖。之後我們掉不好的建議和進行測試的垮臺，但流氓並沒有出現。在這方面上的精簡和我們會回到你要為你的進步，有線作出回應。謝謝！李桑華奧林匹克

結果 (繁體中文) 2:

前台：TBS woominyoung局長的
電話：上海家化電子OD研究團隊理想化

喜
是上海家化電子OD研究團隊理想化的

我們，每股金額上QJ4G分析報告回落可靠性缺陷的。

作為隨附書面報告，壞事業IC裂縫此檢查，無法核實hayeotneunjineun裂紋會出現這種情況。

QJ4但是當你通過這個項目工作了很多跌落試驗，如果IC壞了，是在IC裂紋歷史上第等機型是缺乏拉的尷尬狀態。

在檢查燈to'll需要將需要對現有的認知測試夾具與另一夾具，無板加強產品的附加 ​​測試是否確認是否發生了故障，由於加強板或無接觸的一部分。

放棄不好的建議，但我們也繼續下跌測試後糟糕的情況沒有發生。

我們要求對此，響應進步精簡版，我們將聯繫線。

請勞動
理想化電梯

結果 (繁體中文) 3:

接收：TBS愚民營主任發信：磁化電子OD研究一組理想化。你好！磁化電子OD研究一組理想化。QJ4G降落廢棄物對可靠性分量分析報告共亯。附加的報告中寫的一樣，不良的原因是IC Crack確認，Crack怎麼發生的確認是不可能的。QJ4項目進行大量降落進行了測試，IC的情况是，其他模型中IC Crack履歷的尷尬狀態。光來確定要Test部分現有的Jig和其他jig，加固板有無造成不良的發生，為加强版的產品可以添加Test韓紙詢問。降落傘降Test不良通報後我們也進行了不良的發生。與此相關，Lite on對應進行拜託，有線管道聯絡您。辛苦你了。奧林匹克理想化。